Symposium: held April 17 - 19, 2001, San Francisco, California, USA
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Symposium on Si Front End Processing - Physics and Technology of Dopant Defect Interactions San Francisco, Calif (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Jones, Erin C. (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Warrendale, Pa. Materials Research Soc. 2001
Schriftenreihe:Materials Research Society symposium proceedings 669
Schlagworte:
Beschreibung:Getr. Zählung Ill., graph. Darst.
ISBN:1558996052

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