Proceedings: 24 - 26 October 2001, San Francisco, California
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems San Francisco, Calif (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Young, Danielle C. (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: LosAlamitos, Calif. <<[u.a.]>> IEEE Computer Soc. 2001
Schlagworte:
Beschreibung:XIII, 468 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0769512038
0769512046

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!