Interferometric metrology: 20 - 21 August 1987, San Diego, California
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Massie, N. A. (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 1987
Schriftenreihe:Proceedings / SPIE 816
Critical reviews of optical science and technology
Schlagworte:
Beschreibung:VI, 239 S.

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