1998 3rd International Workshop on Statistical Metrology: June 7, 1998, Honolulu
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: International Workshop on Statistical Metrology Honolulu, Hawaii (VerfasserIn), International Workshop on Statistical Metrology (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE Service Center 1998
Schlagworte:
Beschreibung:VI, 121 S. graph. Darst.
ISBN:0780343387

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!