Structural characterisations of sputtered metallic multilayers: X-ray and neutron scattering studies
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Tixier, Sébastien (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Mikrofilm Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1998
Ausgabe:[Mikrofiche-Ausg.]
Schlagworte:
Beschreibung:117 Bl.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!