Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie: Konzept für die integrierte Prüfplanung in der modernen Elektronikproduktion
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Mikrofilm Buch |
| Sprache: | Undetermined |
| Veröffentlicht: |
1997
|
| Ausgabe: | [Mikrofiche-Ausg.] |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | VIII, 195 Bl. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV024432738 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20090910 | ||
| 007 | he|uuuuuuuuuu | ||
| 008 | 980506s1997 bm||| 00||| und d | ||
| 035 | |a (OCoLC)246323853 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV024432738 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
| 041 | |a und | ||
| 049 | |a DE-83 | ||
| 100 | 1 | |a Balters, Martin |d 1967- |e Verfasser |0 (DE-588)120008440 |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie |b Konzept für die integrierte Prüfplanung in der modernen Elektronikproduktion |c vorgelegt von Martin Balters |
| 250 | |a [Mikrofiche-Ausg.] | ||
| 264 | 1 | |c 1997 | |
| 300 | |a VIII, 195 Bl. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b h |2 rdamedia | ||
| 338 | |b he |2 rdacarrier | ||
| 502 | |a Zürich, Techn. Hochsch., Diss. | ||
| 533 | |a Mikroform-Ausgabe |n Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Mikroform |0 (DE-588)4039216-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Elektronikindustrie |0 (DE-588)4133005-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Strategische Planung |0 (DE-588)4309237-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Technologiemanagement |0 (DE-588)4215161-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Prüfplanung |0 (DE-588)4301886-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Produktentwicklung |0 (DE-588)4139402-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Elektronikindustrie |0 (DE-588)4133005-5 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Produktentwicklung |0 (DE-588)4139402-1 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Technologiemanagement |0 (DE-588)4215161-2 |D s |
| 689 | 0 | 3 | |a Strategische Planung |0 (DE-588)4309237-8 |D s |
| 689 | 0 | 4 | |a Prüfplanung |0 (DE-588)4301886-5 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Elektronikindustrie |0 (DE-588)4133005-5 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Produktentwicklung |0 (DE-588)4139402-1 |D s |
| 689 | 1 | 2 | |a Technologiemanagement |0 (DE-588)4215161-2 |D s |
| 689 | 1 | 3 | |a Strategische Planung |0 (DE-588)4309237-8 |D s |
| 689 | 1 | 4 | |a Prüfplanung |0 (DE-588)4301886-5 |D s |
| 689 | 1 | 5 | |a Mikroform |0 (DE-588)4039216-8 |D s |
| 689 | 1 | |5 DE-604 | |
| 776 | 0 | 8 | |i Reproduktion von |a Balters, Martin, 1967- |t Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie |d 1997 |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018409937 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804140407221649408 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Balters, Martin 1967- |
| author_GND | (DE-588)120008440 |
| author_facet | Balters, Martin 1967- |
| author_role | aut |
| author_sort | Balters, Martin 1967- |
| author_variant | m b mb |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV024432738 |
| ctrlnum | (OCoLC)246323853 (DE-599)BVBBV024432738 |
| edition | [Mikrofiche-Ausg.] |
| format | Thesis Microfilm Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02165nam a2200529 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV024432738</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20090910 </controlfield><controlfield tag="007">he|uuuuuuuuuu</controlfield><controlfield tag="008">980506s1997 bm||| 00||| und d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)246323853</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV024432738</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">und</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-83</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Balters, Martin</subfield><subfield code="d">1967-</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)120008440</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie</subfield><subfield code="b">Konzept für die integrierte Prüfplanung in der modernen Elektronikproduktion</subfield><subfield code="c">vorgelegt von Martin Balters</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">[Mikrofiche-Ausg.]</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1997</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">VIII, 195 Bl.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">h</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">he</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zürich, Techn. Hochsch., Diss.</subfield></datafield><datafield tag="533" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Mikroform-Ausgabe</subfield><subfield code="n">Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Mikroform</subfield><subfield code="0">(DE-588)4039216-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektronikindustrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133005-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Strategische Planung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4309237-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Technologiemanagement</subfield><subfield code="0">(DE-588)4215161-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Prüfplanung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4301886-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Produktentwicklung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4139402-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Elektronikindustrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133005-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Produktentwicklung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4139402-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Technologiemanagement</subfield><subfield code="0">(DE-588)4215161-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Strategische Planung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4309237-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">Prüfplanung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4301886-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Elektronikindustrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133005-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Produktentwicklung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4139402-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">Technologiemanagement</subfield><subfield code="0">(DE-588)4215161-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">Strategische Planung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4309237-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="4"><subfield code="a">Prüfplanung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4301886-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="5"><subfield code="a">Mikroform</subfield><subfield code="0">(DE-588)4039216-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="776" ind1="0" ind2="8"><subfield code="i">Reproduktion von</subfield><subfield code="a">Balters, Martin, 1967-</subfield><subfield code="t">Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie</subfield><subfield code="d">1997</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018409937</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV024432738 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T21:59:29Z |
| institution | BVB |
| language | Undetermined |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018409937 |
| oclc_num | 246323853 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-83 |
| owner_facet | DE-83 |
| physical | VIII, 195 Bl. |
| publishDate | 1997 |
| publishDateSearch | 1997 |
| publishDateSort | 1997 |
| record_format | marc |
| spelling | Balters, Martin 1967- Verfasser (DE-588)120008440 aut Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie Konzept für die integrierte Prüfplanung in der modernen Elektronikproduktion vorgelegt von Martin Balters [Mikrofiche-Ausg.] 1997 VIII, 195 Bl. txt rdacontent h rdamedia he rdacarrier Zürich, Techn. Hochsch., Diss. Mikroform-Ausgabe Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches Mikroform (DE-588)4039216-8 gnd rswk-swf Elektronikindustrie (DE-588)4133005-5 gnd rswk-swf Strategische Planung (DE-588)4309237-8 gnd rswk-swf Technologiemanagement (DE-588)4215161-2 gnd rswk-swf Prüfplanung (DE-588)4301886-5 gnd rswk-swf Produktentwicklung (DE-588)4139402-1 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Elektronikindustrie (DE-588)4133005-5 s Produktentwicklung (DE-588)4139402-1 s Technologiemanagement (DE-588)4215161-2 s Strategische Planung (DE-588)4309237-8 s Prüfplanung (DE-588)4301886-5 s DE-604 Mikroform (DE-588)4039216-8 s Reproduktion von Balters, Martin, 1967- Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie 1997 |
| spellingShingle | Balters, Martin 1967- Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie Konzept für die integrierte Prüfplanung in der modernen Elektronikproduktion Mikroform (DE-588)4039216-8 gnd Elektronikindustrie (DE-588)4133005-5 gnd Strategische Planung (DE-588)4309237-8 gnd Technologiemanagement (DE-588)4215161-2 gnd Prüfplanung (DE-588)4301886-5 gnd Produktentwicklung (DE-588)4139402-1 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4039216-8 (DE-588)4133005-5 (DE-588)4309237-8 (DE-588)4215161-2 (DE-588)4301886-5 (DE-588)4139402-1 (DE-588)4113937-9 |
| title | Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie Konzept für die integrierte Prüfplanung in der modernen Elektronikproduktion |
| title_auth | Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie Konzept für die integrierte Prüfplanung in der modernen Elektronikproduktion |
| title_exact_search | Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie Konzept für die integrierte Prüfplanung in der modernen Elektronikproduktion |
| title_full | Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie Konzept für die integrierte Prüfplanung in der modernen Elektronikproduktion vorgelegt von Martin Balters |
| title_fullStr | Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie Konzept für die integrierte Prüfplanung in der modernen Elektronikproduktion vorgelegt von Martin Balters |
| title_full_unstemmed | Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie Konzept für die integrierte Prüfplanung in der modernen Elektronikproduktion vorgelegt von Martin Balters |
| title_short | Qualitätsmanagement in der Elektronikindustrie |
| title_sort | qualitatsmanagement in der elektronikindustrie konzept fur die integrierte prufplanung in der modernen elektronikproduktion |
| title_sub | Konzept für die integrierte Prüfplanung in der modernen Elektronikproduktion |
| topic | Mikroform (DE-588)4039216-8 gnd Elektronikindustrie (DE-588)4133005-5 gnd Strategische Planung (DE-588)4309237-8 gnd Technologiemanagement (DE-588)4215161-2 gnd Prüfplanung (DE-588)4301886-5 gnd Produktentwicklung (DE-588)4139402-1 gnd |
| topic_facet | Mikroform Elektronikindustrie Strategische Planung Technologiemanagement Prüfplanung Produktentwicklung Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT baltersmartin qualitatsmanagementinderelektronikindustriekonzeptfurdieintegrierteprufplanungindermodernenelektronikproduktion |