Study of the radiation damage in analog CMOS pipelines, MOS transistors, and MOS capacitors:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Böttcher, Stephan (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Hamburg 1996
Schlagworte:
Beschreibung:134 Sp. Ill., graph. Darst.

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