Proceedings: November 6 - 8, 1996, Boston, Massachusetts
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems Boston, Mass (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: LosAlamitos, Calif. <<[u.a.]>> IEEE Computer Soc. Press 1996
Schlagworte:
Beschreibung:XI, 341 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0818675454

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