Secondary ion mass spectrometry: proceedings of the Seventh International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry(SIMS VII), Monterey, California, USA, September 3 - 8, 1989
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Benninghoven, Alfred (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Chichester <<[u.a.]>> Wiley 1990
Schlagworte:
Beschreibung:XXVII, 963 S.

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