Analytische Beschreinung des Degradationsverhaltens von Submikrometer-MOS-Bauelementen durch heiße Ladungsträger: Experimente, Modellbildung und Simulation für schaltungstechnische Anwendungen
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Wang, Qin (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1991
Schlagworte:
Beschreibung:128 S. graph. Darst.

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