Multilayer and grazing incidence X-ray EUV optics for astronomy and projection lithography: 19 - 22 July 1992, San Diego, California
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Hoover, Richard B. (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. 1993
Schriftenreihe:Proceedings / SPIE 1742
Schlagworte:
Beschreibung:XIII, 702 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0819409154

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