Untersuchungen von Si- und SiGe-Schichtstrukturen mittels DLTS und CV-Profiler:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Apetz, Rolf (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Jülich Forschungszentrum Jülich, Zentralbibliothek 1992
Beschreibung:II, 87 S. Ill., graph. Darst.

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