Test, measurements, and characterization of electrooptic devices and systems: 8. September 1989, Boston, Mass.
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Wadekar, Shekhar G. (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. 1990
Schriftenreihe:Proceedings / SPIE 1180
Schlagworte:
Beschreibung:VI, 196 S.

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