Möller, M. O. (1991). Hochauflösende Röntgendiffraktometrie zur Charakterisierung von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen ([Mikrofiche-Ausg.].).
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Möller, Markus O. Hochauflösende Röntgendiffraktometrie Zur Charakterisierung Von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen. [Mikrofiche-Ausg.]. 1991.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Möller, Markus O. Hochauflösende Röntgendiffraktometrie Zur Charakterisierung Von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen. [Mikrofiche-Ausg.]. 1991.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.