Hochauflösende Röntgendiffraktometrie zur Charakterisierung von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Möller, Markus O. (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Mikrofilm Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1991
Ausgabe:[Mikrofiche-Ausg.]
Schlagworte:
Beschreibung:VII, 151 Bl.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!