Second International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments: 29 October - 5 November 1993, Wuhan, China
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments Wuhan (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Li, Zhu (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Bellingham, Wash.
Schriftenreihe:Proceedings / SPIE 2101
Schlagworte:
ISBN:0819413844

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