Die Alterung bei n-Kanal-MOS-Transistoren unter dem Einfluß hochenergetischer Ladungsträger: der 'Hot-Electron'-Effekt
Saved in:
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| Format: | Book |
| Language: | Undetermined |
| Published: |
Düsseldorf
VDI-Verl.
1988
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| Edition: | Als Ms. gedr. |
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