Entwicklung eines Makromodells für die Schaltungs- und Zuverlässigkeitssimulation von EEPROM-Zellen im erhöhten Temperaturbereich:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Nebrich, Lars (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Aachen Mainz 2002
Ausgabe:1. Aufl.
Schriftenreihe:Kieler Beiträge zu mikroelektronischen Systemen 6
Schlagworte:
Beschreibung:III, 168 S. Ill., graph. Darst. 21 cm
ISBN:3860737945

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