Secondary ion mass spectrometry: SIMS VIII ; proceedings of the eighth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, International Congress Centre RAI, Amsterdam, The Netherlands, September 15-20th, 1991
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Benninghoven, Alfred (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Chichester [u.a.] Wiley 1992
Schlagworte:
Beschreibung:XXV, 917 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0471930644

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