Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS: mit 29 Tabellen
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Berlin
Akad.-Verl.
1986
|
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | VIII, 300 S. Ill. |
| ISBN: | 3055000595 |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000zc 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV023775273 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20200326 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 920109s1986 a||| |||| 00||| ger d | ||
| 020 | |a 3055000595 |9 3-05-500059-5 | ||
| 035 | |a (OCoLC)258284769 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV023775273 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-634 | ||
| 100 | 1 | |a Grasserbauer, Manfred |d 1945- |e Verfasser |0 (DE-588)136012523 |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS |b mit 29 Tabellen |c Manfred Grasserbauer ; Hans Joachim Dudek ; Maria F. Ebel |
| 264 | 1 | |a Berlin |b Akad.-Verl. |c 1986 | |
| 300 | |a VIII, 300 S. |b Ill. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Auger-Spektroskopie |0 (DE-588)4122843-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Röntgen-Photoelektronenspektroskopie |0 (DE-588)4076787-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Sekundärionen-Massenspektrometrie |0 (DE-588)4077346-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 689 | 0 | 0 | |a Sekundärionen-Massenspektrometrie |0 (DE-588)4077346-2 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Auger-Spektroskopie |0 (DE-588)4122843-1 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Röntgen-Photoelektronenspektroskopie |0 (DE-588)4076787-5 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 700 | 1 | |a Dudek, Hans J. |d 1938- |e Verfasser |0 (DE-588)120161974 |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Ebel, Maria F. |e Verfasser |0 (DE-588)13593771X |4 aut | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-017417500 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804138964561428480 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Grasserbauer, Manfred 1945- Dudek, Hans J. 1938- Ebel, Maria F. |
| author_GND | (DE-588)136012523 (DE-588)120161974 (DE-588)13593771X |
| author_facet | Grasserbauer, Manfred 1945- Dudek, Hans J. 1938- Ebel, Maria F. |
| author_role | aut aut aut |
| author_sort | Grasserbauer, Manfred 1945- |
| author_variant | m g mg h j d hj hjd m f e mf mfe |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV023775273 |
| ctrlnum | (OCoLC)258284769 (DE-599)BVBBV023775273 |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01408nam a2200361zc 4500</leader><controlfield tag="001">BV023775273</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20200326 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">920109s1986 a||| |||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3055000595</subfield><subfield code="9">3-05-500059-5</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)258284769</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV023775273</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-634</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Grasserbauer, Manfred</subfield><subfield code="d">1945-</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)136012523</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS</subfield><subfield code="b">mit 29 Tabellen</subfield><subfield code="c">Manfred Grasserbauer ; Hans Joachim Dudek ; Maria F. Ebel</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Berlin</subfield><subfield code="b">Akad.-Verl.</subfield><subfield code="c">1986</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">VIII, 300 S.</subfield><subfield code="b">Ill.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Auger-Spektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4122843-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Röntgen-Photoelektronenspektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4076787-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Sekundärionen-Massenspektrometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077346-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Sekundärionen-Massenspektrometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077346-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Auger-Spektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4122843-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Röntgen-Photoelektronenspektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4076787-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Dudek, Hans J.</subfield><subfield code="d">1938-</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)120161974</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Ebel, Maria F.</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)13593771X</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-017417500</subfield></datafield></record></collection> |
| id | DE-604.BV023775273 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T21:36:33Z |
| institution | BVB |
| isbn | 3055000595 |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-017417500 |
| oclc_num | 258284769 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-634 |
| owner_facet | DE-634 |
| physical | VIII, 300 S. Ill. |
| publishDate | 1986 |
| publishDateSearch | 1986 |
| publishDateSort | 1986 |
| publisher | Akad.-Verl. |
| record_format | marc |
| spelling | Grasserbauer, Manfred 1945- Verfasser (DE-588)136012523 aut Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS mit 29 Tabellen Manfred Grasserbauer ; Hans Joachim Dudek ; Maria F. Ebel Berlin Akad.-Verl. 1986 VIII, 300 S. Ill. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Auger-Spektroskopie (DE-588)4122843-1 gnd rswk-swf Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (DE-588)4076787-5 gnd rswk-swf Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd rswk-swf Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 s Auger-Spektroskopie (DE-588)4122843-1 s Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (DE-588)4076787-5 s DE-604 Dudek, Hans J. 1938- Verfasser (DE-588)120161974 aut Ebel, Maria F. Verfasser (DE-588)13593771X aut |
| spellingShingle | Grasserbauer, Manfred 1945- Dudek, Hans J. 1938- Ebel, Maria F. Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS mit 29 Tabellen Auger-Spektroskopie (DE-588)4122843-1 gnd Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (DE-588)4076787-5 gnd Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4122843-1 (DE-588)4076787-5 (DE-588)4077346-2 |
| title | Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS mit 29 Tabellen |
| title_auth | Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS mit 29 Tabellen |
| title_exact_search | Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS mit 29 Tabellen |
| title_full | Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS mit 29 Tabellen Manfred Grasserbauer ; Hans Joachim Dudek ; Maria F. Ebel |
| title_fullStr | Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS mit 29 Tabellen Manfred Grasserbauer ; Hans Joachim Dudek ; Maria F. Ebel |
| title_full_unstemmed | Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS mit 29 Tabellen Manfred Grasserbauer ; Hans Joachim Dudek ; Maria F. Ebel |
| title_short | Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS |
| title_sort | angewandte oberflachenanalyse mit sims aes und xps mit 29 tabellen |
| title_sub | mit 29 Tabellen |
| topic | Auger-Spektroskopie (DE-588)4122843-1 gnd Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (DE-588)4076787-5 gnd Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd |
| topic_facet | Auger-Spektroskopie Röntgen-Photoelektronenspektroskopie Sekundärionen-Massenspektrometrie |
| work_keys_str_mv | AT grasserbauermanfred angewandteoberflachenanalysemitsimsaesundxpsmit29tabellen AT dudekhansj angewandteoberflachenanalysemitsimsaesundxpsmit29tabellen AT ebelmariaf angewandteoberflachenanalysemitsimsaesundxpsmit29tabellen |