Herstellung und Charakteresierung nanokristalliner Siliciumschichten: Untersuchung der Mikrostruktur und der optischen und elektrischen Eigenschaften
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | Undetermined |
| Veröffentlicht: |
1995
|
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | 80 S. graph. Darst. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000zc 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV023764195 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20070309000000.0 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 960315s1995 d||| m||| 00||| und d | ||
| 035 | |a (OCoLC)258501742 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV023764195 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger | ||
| 041 | |a und | ||
| 049 | |a DE-634 | ||
| 100 | 1 | |a Schoenfeld, Olaf |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Herstellung und Charakteresierung nanokristalliner Siliciumschichten |b Untersuchung der Mikrostruktur und der optischen und elektrischen Eigenschaften |c von Olaf Schoenfeld |
| 264 | 1 | |c 1995 | |
| 300 | |a 80 S. |b graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 502 | |a Magdeburg, Univ., Diss., 1995 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Silicium |0 (DE-588)4077445-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Elektrische Leitfähigkeit |0 (DE-588)4014200-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Optische Eigenschaft |0 (DE-588)4123887-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Nanostrukturiertes Material |0 (DE-588)4342626-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Halbleiterschicht |0 (DE-588)4158812-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Silicium |0 (DE-588)4077445-4 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Halbleiterschicht |0 (DE-588)4158812-5 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Nanostrukturiertes Material |0 (DE-588)4342626-8 |D s |
| 689 | 0 | 3 | |a Elektrische Leitfähigkeit |0 (DE-588)4014200-0 |D s |
| 689 | 0 | 4 | |a Optische Eigenschaft |0 (DE-588)4123887-4 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-017406435 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804138950439206912 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Schoenfeld, Olaf |
| author_facet | Schoenfeld, Olaf |
| author_role | aut |
| author_sort | Schoenfeld, Olaf |
| author_variant | o s os |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV023764195 |
| ctrlnum | (OCoLC)258501742 (DE-599)BVBBV023764195 |
| format | Thesis Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01526nam a2200397zc 4500</leader><controlfield tag="001">BV023764195</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20070309000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">960315s1995 d||| m||| 00||| und d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)258501742</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV023764195</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">und</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-634</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Schoenfeld, Olaf</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Herstellung und Charakteresierung nanokristalliner Siliciumschichten</subfield><subfield code="b">Untersuchung der Mikrostruktur und der optischen und elektrischen Eigenschaften</subfield><subfield code="c">von Olaf Schoenfeld</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1995</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">80 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Magdeburg, Univ., Diss., 1995</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektrische Leitfähigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014200-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Optische Eigenschaft</subfield><subfield code="0">(DE-588)4123887-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Nanostrukturiertes Material</subfield><subfield code="0">(DE-588)4342626-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Halbleiterschicht</subfield><subfield code="0">(DE-588)4158812-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Silicium</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077445-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Halbleiterschicht</subfield><subfield code="0">(DE-588)4158812-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Nanostrukturiertes Material</subfield><subfield code="0">(DE-588)4342626-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Elektrische Leitfähigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014200-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">Optische Eigenschaft</subfield><subfield code="0">(DE-588)4123887-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-017406435</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV023764195 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T21:36:20Z |
| institution | BVB |
| language | Undetermined |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-017406435 |
| oclc_num | 258501742 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-634 |
| owner_facet | DE-634 |
| physical | 80 S. graph. Darst. |
| publishDate | 1995 |
| publishDateSearch | 1995 |
| publishDateSort | 1995 |
| record_format | marc |
| spelling | Schoenfeld, Olaf Verfasser aut Herstellung und Charakteresierung nanokristalliner Siliciumschichten Untersuchung der Mikrostruktur und der optischen und elektrischen Eigenschaften von Olaf Schoenfeld 1995 80 S. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Magdeburg, Univ., Diss., 1995 Silicium (DE-588)4077445-4 gnd rswk-swf Elektrische Leitfähigkeit (DE-588)4014200-0 gnd rswk-swf Optische Eigenschaft (DE-588)4123887-4 gnd rswk-swf Nanostrukturiertes Material (DE-588)4342626-8 gnd rswk-swf Halbleiterschicht (DE-588)4158812-5 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Silicium (DE-588)4077445-4 s Halbleiterschicht (DE-588)4158812-5 s Nanostrukturiertes Material (DE-588)4342626-8 s Elektrische Leitfähigkeit (DE-588)4014200-0 s Optische Eigenschaft (DE-588)4123887-4 s DE-604 |
| spellingShingle | Schoenfeld, Olaf Herstellung und Charakteresierung nanokristalliner Siliciumschichten Untersuchung der Mikrostruktur und der optischen und elektrischen Eigenschaften Silicium (DE-588)4077445-4 gnd Elektrische Leitfähigkeit (DE-588)4014200-0 gnd Optische Eigenschaft (DE-588)4123887-4 gnd Nanostrukturiertes Material (DE-588)4342626-8 gnd Halbleiterschicht (DE-588)4158812-5 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4077445-4 (DE-588)4014200-0 (DE-588)4123887-4 (DE-588)4342626-8 (DE-588)4158812-5 (DE-588)4113937-9 |
| title | Herstellung und Charakteresierung nanokristalliner Siliciumschichten Untersuchung der Mikrostruktur und der optischen und elektrischen Eigenschaften |
| title_auth | Herstellung und Charakteresierung nanokristalliner Siliciumschichten Untersuchung der Mikrostruktur und der optischen und elektrischen Eigenschaften |
| title_exact_search | Herstellung und Charakteresierung nanokristalliner Siliciumschichten Untersuchung der Mikrostruktur und der optischen und elektrischen Eigenschaften |
| title_full | Herstellung und Charakteresierung nanokristalliner Siliciumschichten Untersuchung der Mikrostruktur und der optischen und elektrischen Eigenschaften von Olaf Schoenfeld |
| title_fullStr | Herstellung und Charakteresierung nanokristalliner Siliciumschichten Untersuchung der Mikrostruktur und der optischen und elektrischen Eigenschaften von Olaf Schoenfeld |
| title_full_unstemmed | Herstellung und Charakteresierung nanokristalliner Siliciumschichten Untersuchung der Mikrostruktur und der optischen und elektrischen Eigenschaften von Olaf Schoenfeld |
| title_short | Herstellung und Charakteresierung nanokristalliner Siliciumschichten |
| title_sort | herstellung und charakteresierung nanokristalliner siliciumschichten untersuchung der mikrostruktur und der optischen und elektrischen eigenschaften |
| title_sub | Untersuchung der Mikrostruktur und der optischen und elektrischen Eigenschaften |
| topic | Silicium (DE-588)4077445-4 gnd Elektrische Leitfähigkeit (DE-588)4014200-0 gnd Optische Eigenschaft (DE-588)4123887-4 gnd Nanostrukturiertes Material (DE-588)4342626-8 gnd Halbleiterschicht (DE-588)4158812-5 gnd |
| topic_facet | Silicium Elektrische Leitfähigkeit Optische Eigenschaft Nanostrukturiertes Material Halbleiterschicht Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT schoenfeldolaf herstellungundcharakteresierungnanokristallinersiliciumschichtenuntersuchungdermikrostrukturundderoptischenundelektrischeneigenschaften |