Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskopie im Ultrahoch-Vakuum auf van-der-Waals-Oberflächen:
Gespeichert in:
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| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Aachen
Shaker
1999
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| Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
| Schriftenreihe: | Berichte aus der Physik
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| Beschreibung: | 84 S. Ill., graph. Darst. |
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