Laser metrology and inspection: 14 - 15 June 1999, Munich, Germany
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Tiziani, Hans (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE Optical Engineering Pr. 1999
Schriftenreihe:SPIE proceedings series 3823
Schlagworte:
Beschreibung:VII, 298 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0819433098

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