On line-testing for VLSI:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Nicolaidis, Michael (HerausgeberIn), Zorian, Yervant (HerausgeberIn), Pradan, Dhiraj K. (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Boston ; Dordrecht ; London Kluwer Acad. Publ. 1998
Schlagworte:
Beschreibung:Reprinted from a special issue of Journal of electronic testing, theory and applications, volume 12, nos. 1 & 2, February/March 1998
Beschreibung:159 S. graph. Darst.
ISBN:0792381327

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