Data Mining and Diagnosing IC Fails:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Huisman, Leendert M. (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Springer 2005
Schriftenreihe:Frontiers in Electronic Testing 31
Schlagworte:
Online-Zugang:BTU01
FHR01
Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (XX, 250 S.) 46 schw.-w. Ill., 8 schw.-w. Fotos, 38 schw.-w. graph. Darst.
ISBN:0387249931
9780387263519
DOI:10.1007/b137446

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