Semiconductor modeling: for simulating signal, power, and electromagnetic integrity
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Bibliographische Detailangaben
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY Springer 2006
Schlagworte:
Online-Zugang:BTU01
FHI01
FHR01
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URL des Erstveröffentlichers
Beschreibung:1 Online-Ressource
ISBN:0387241590
0387241604
9780387241609
9780387258706
DOI:10.1007/b104647

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