Applied scanning probe methods: [1]
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin [u.a.] Springer (2004)
Schriftenreihe:NanoScience and technology
Schlagworte:
Beschreibung:XX, 476 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3540005277

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