Ballistische Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM) an Ferromagnet-Halbleitergrenzflächen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Obernhuber, Sandra (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 2007
Schlagworte:
Online-Zugang:kostenfrei
Beschreibung:Regensburg, Univ., Diss., 2007
Beschreibung:II, 119 S. Ill., graph. Darst.

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