Schirl, U. (1996). Bestimmung des Ortes einzelner Störstellen in sub-[My]m MOSFETs ([Maschinenschrift].).
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Schirl, Uwe. Bestimmung Des Ortes Einzelner Störstellen in Sub-[My]m MOSFETs. [Maschinenschrift]. 1996.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Schirl, Uwe. Bestimmung Des Ortes Einzelner Störstellen in Sub-[My]m MOSFETs. [Maschinenschrift]. 1996.
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