Bestimmung des Ortes einzelner Störstellen in sub-[My]m MOSFETs:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schirl, Uwe (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1996
Ausgabe:[Maschinenschrift]
Schlagworte:
Beschreibung:Erlangen, Univ., Diplomarbeit, 1996
Beschreibung:IV, 97 S. Ill., graph. Darst.

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