Molecular beam deposition (MBD) and characterisation of high-k material as alternative gate oxides for MOS-technology:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Capodieci, Vanessa (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: [2006]
Schlagworte:
Online-Zugang:http://d-nb.info/982288042/34
https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:706-1682
Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand! Volltext öffnen