Admittanzspektroskopie und Kapazitätstransientenspektroskopie an SiO2/SiC Grenzflächen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Baßler, Michael 1968- (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1995
Ausgabe:[Maschinenschrift]
Schlagworte:
Beschreibung:III, 120 S. graph. Darst.

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