... IEEE Autotestcon proceedings: 1998 Test technology for the 21st century
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Systems Readiness Technology Conference (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE Service Center 1998
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:XXVI, 669 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0780344200
0780344219
0780344227

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