Records of the IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing: 1994 August 8 - 9, 1994, San Jose, California
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Workshop on Memory Technology, Design and Testing (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. IEEE Computer Soc. Press 1994
Schlagworte:
Beschreibung:IX, 141 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:081866245X
0818662468

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