... IEEE international reliability physics proceedings: ... annual 33 Las Vegas, Nevada, April 4,5,6, 1995
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Institute of Electrical and Electronics Engineers (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Piscataway, NJ Inst. of Electrical and Electronics Engineers 1995
Schlagworte:
Beschreibung:VII, 405 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:078032031X
0780320328
0780320336

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