... IEEE international reliability physics proceedings: ... annual 32 San Jose, California, April 12, 13, 14, 1994
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Institute of Electrical and Electronics Engineers (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Piscataway, NJ Inst. of Electrical and Electronics Engineers 1994
Beschreibung:XI, 505 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0780313577
0780313585
0780313593

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