Proceedings of the ... International Conference on Microelectronic Test Structures: 2000 DoubleTree Hotel, Monterey, California, March 13 - 16, 2000
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Conference on Microelectronic Test Structures (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY IEEE 2000
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:251 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0780362757
0780362764
0780362772

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