X-ray microscopy: proceedings of the internat. symposium 2 Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, Aug. 31 - Sept. 4, 1987
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin [u.a.] Springer 1988
Schriftenreihe:Springer series in optical sciences 56
Schlagworte:
Beschreibung:XIV, 454 S. zahlr. Ill. u. graph. Darst.
ISBN:3540193928
0387193928

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