Proceedings: 2 January 23-25, 1990, Fairmont Hotel, San Francisco, Calif., USA
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Conference on Wafer Scale Integration (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Washington, DC IEEE Computer Soc. Pr. 1990
Beschreibung:XIV, 341 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0818690135
0818660139

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