Diffusion in silicon: a seven-year retrospective
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Uetikon-Zürich Trans Tech Publ. 2005
Schriftenreihe:Diffusion and defect data Pt. A, Defect and diffusion forum ; 241
Schlagworte:
Beschreibung:VI, 212 S. graph. Darst.

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