Proceedings: 2002 [ Theme: Beyond 2001 - The reliability and maintainability odyssey continues ] : Seattle, Washington, USA, 2002, January 28 - 31
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Reliability and Maintainability Symposium (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Inst. of Electrical and Electronics Engineers 2002
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:XXIV, 662 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0780373480
0780373499

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