Proceedings: 2001 [ Theme: Applications & trends for using reliability & maintainability tools ] : Philadelphia, Pennsylvania, USA, 2001, January 22 - 25
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Reliability and Maintainability Symposium (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Inst. of Electrical and Electronics Engineers 2001
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:XX, 436 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0780366158
0780366166

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