Proceedings: 1998 [ Theme: Meeting the global challenge ] : Anaheim, California, USA, 1998 January 19 - 22
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Reliability and Maintainability Symposium (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Inst. of Electrical and Electronics Engineers 1998
Beschreibung:XVI, 433, 85 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:078034362x
0780343638
0780343646

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