Proceedings: 1997 Philadelphia, Pennsylvania USA, 1997, January 13 - 16
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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Reliability and Maintainability Symposium (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Inst. of Electrical and Electronics Engineers 1997
Beschreibung:XVIII, 370 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0780337832
0780337840
0780337859

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