Proceedings: 1991 Orlando, Fla., USA, 1991 January 29-31
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Reliability and Maintainability Symposium (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Inst. of Electrical and Electronics Engineers 1991
Beschreibung:XX, 623, 75 S.

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