Proceedings: 1990 Los Angeles, Calif., USA, January 23-25
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Reliability and Maintainability Symposium (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Inst. of Electrical and Electronics Engineers 1990
Beschreibung:XX, 534, 69 S.

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