Proceedings: 1985 Philadelphia, Pa., 1985, Jan. 22-24
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Reliability and Maintainability Symposium (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Inst. of Electrical and Electronics Engineers 1985
Beschreibung:484 S.

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