Proceedings: 1980 San Francisco, CA, January 22-24, 1980
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Reliability and Maintainability Symposium (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Inst. of Electrical and Electronics Engineers 1980
Beschreibung:478 S. Ill.

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