Symposium record: 2000,2 August 21 - 25, 2000, Washington Hilton & Towers, Washington, DC
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium on Electromagnetic Compatibility (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY Inst. of Electrical and Electronics Engineers 2000
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:XVI S., S. 493 - 1000 Ill., graph. Darst.
ISBN:0780356772
0780356780
0780356799

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