Analysis of random test pattern generation for combinational circuits:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Huang, Hubert Hwa-Chou (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: 1971
Schlagworte:
Beschreibung:Los Angeles, Calif., Univ., Diss., 1971. -Kopie, erschienen im Verl. Univ. Microfilms Internat., Ann Arbor, Mich.
Beschreibung:VI, 121 Bl. graph. Darst.

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